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SEM-XMAP : scanning electron microscopy and X-ray dot-mapping applied to cemented paste backfill

Serge Ouellet, Bruno Bussière, Mostafa Benzaazoua et Michel Aubertin

Communication écrite (2007)

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Département: Département des génies civil, géologique et des mines
URL de PolyPublie: https://publications.polymtl.ca/21542/
Nom de la conférence: 9th International Symposium in Mining with Backfill
Lieu de la conférence: Montréal, Québec
Date(s) de la conférence: 2007-04-29 - 2007-05-02
Date du dépôt: 18 avr. 2023 15:17
Dernière modification: 05 avr. 2024 11:05
Citer en APA 7: Ouellet, S., Bussière, B., Benzaazoua, M., & Aubertin, M. (avril 2007). SEM-XMAP : scanning electron microscopy and X-ray dot-mapping applied to cemented paste backfill [Communication écrite]. 9th International Symposium in Mining with Backfill, Montréal, Québec.

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