J. L. Brusso, O. D. Hirst, A. Dadvand, S. Ganesan, Fabio Cicoira, C. M. Robertson, R. T. Oakley, F. Rosei, D. F. Perepichka
Article de revue (2008)
Document publié alors que les auteurs ou autrices n'étaient pas affiliés à Polytechnique Montréal
Accéder à ce document
Lien externe
Ce document n'est pas archivé dans PolyPublie, mais peut être consulté chez l'éditeur officiel
Adresse URL de PolyPublie:
Titre de la revue
:
Chemistry of Materials
(
vol.
20
,
no
7
)
Maison d'édition:
American Chemical Society (ACS)
DOI:
URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:21027
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:15
Dernière modification:
14 oct. 2026 12:53
Citer en APA 7:
Brusso, J. L., Hirst, O. D., Dadvand, A., Ganesan, S., Cicoira, F., Robertson, C. M., Oakley, R. T., Rosei, F., & Perepichka, D. F. (2008). Two-dimensional structural motif in thienoacene semiconductors: synthesis, structure, and properties of tetrathienoanthracene isomers. Chemistry of Materials, 20(7), 2484-2494. https://doi.org/10.1021/cm7030653
Statistiques
Dimensions
