J. L. Brusso, O. D. Hirst, A. Dadvand, S. Ganesan, Fabio Cicoira
, C. M. Robertson, R. T. Oakley, F. Rosei et D. F. Perepichka
Article de revue (2008)
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| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/21027/ |
|---|---|
| Titre de la revue: | Chemistry of Materials (vol. 20, no 7) |
| Maison d'édition: | American Chemical Society (ACS) |
| DOI: | 10.1021/cm7030653 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1021/cm7030653 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:15 |
| Dernière modification: | 05 avr. 2024 11:04 |
| Citer en APA 7: | Brusso, J. L., Hirst, O. D., Dadvand, A., Ganesan, S., Cicoira, F., Robertson, C. M., Oakley, R. T., Rosei, F., & Perepichka, D. F. (2008). Two-dimensional structural motif in thienoacene semiconductors: synthesis, structure, and properties of tetrathienoanthracene isomers. Chemistry of Materials, 20(7), 2484-2494. https://doi.org/10.1021/cm7030653 |
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