Carla M. Aguirre, Pierre L. Lévesque, Matthieu Paillet, François Lapointe, Benoit C. St-Antoine, Patrick Desjardins et Richard Martel
Article de revue (2009)
Un lien externe est disponible pour ce document| Département: | Département de génie physique |
|---|---|
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/20052/ |
| Titre de la revue: | Advanced Materials (vol. 21, no 30) |
| Maison d'édition: | Wiley |
| DOI: | 10.1002/adma.200900550 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1002/adma.200900550 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:14 |
| Dernière modification: | 08 avr. 2025 02:06 |
| Citer en APA 7: | Aguirre, C. M., Lévesque, P. L., Paillet, M., Lapointe, F., St-Antoine, B. C., Desjardins, P., & Martel, R. (2009). The role of the oxygen/water redox couple in suppressing electron conduction in field-effect transistors. Advanced Materials, 21(30), 3087-3091. https://doi.org/10.1002/adma.200900550 |
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