Carla M. Aguirre, Pierre L. Levesque, Matthieu Paillet, François Lapointe, Benoit C. St-Antoine, Patrick Desjardins et Richard Martel
Article de revue (2009)
Un lien externe est disponible pour ce documentDépartement: | Département de génie physique |
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URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/20052/ |
Titre de la revue: | Advanced Materials (vol. 21, no 30) |
Maison d'édition: | Wiley |
DOI: | 10.1002/adma.200900550 |
URL officielle: | https://doi.org/10.1002/adma.200900550 |
Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:14 |
Dernière modification: | 25 sept. 2024 15:58 |
Citer en APA 7: | Aguirre, C. M., Levesque, P. L., Paillet, M., Lapointe, F., St-Antoine, B. C., Desjardins, P., & Martel, R. (2009). The role of the oxygen/water redox couple in suppressing electron conduction in field-effect transistors. Advanced Materials, 21(30), 3087-3091. https://doi.org/10.1002/adma.200900550 |
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