Ebrahim Mortazy, Xiupu Zhang et Ke Wu
Communication écrite (2009)
Un lien externe est disponible pour ce documentDépartement: | Département de génie électrique |
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Centre de recherche: | POLY-GRAMES - Centre de recherche avancée en micro-ondes et en électronique spatiale |
URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/19164/ |
Nom de la conférence: | European Microwave Conference (EuMC 2009) |
Lieu de la conférence: | Rome, Italy |
Date(s) de la conférence: | 2009-09-29 - 2009-10-01 |
Maison d'édition: | IEEE |
DOI: | 10.23919/eumc.2009.5296303 |
URL officielle: | https://doi.org/10.23919/eumc.2009.5296303 |
Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:15 |
Dernière modification: | 25 sept. 2024 15:57 |
Citer en APA 7: | Mortazy, E., Zhang, X., & Wu, K. (septembre 2009). Broadband loss characterization of traveling-wave substrate integrated electro-optical devices [Communication écrite]. European Microwave Conference (EuMC 2009), Rome, Italy. https://doi.org/10.23919/eumc.2009.5296303 |
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