A. Wozniak, J. R. René Mayer
et Marek Balazinski
Article de revue (2009)
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| Département: | Département de génie mécanique |
|---|---|
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/18808/ |
| Titre de la revue: | International Journal of Advanced Manufacturing Technology (vol. 42, no 5-6) |
| Maison d'édition: | Springer |
| DOI: | 10.1007/s00170-008-1615-1 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1007/s00170-008-1615-1 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:15 |
| Dernière modification: | 05 avr. 2024 11:01 |
| Citer en APA 7: | Wozniak, A., Mayer, J. R. R., & Balazinski, M. (2009). Stylus tip envelop method: Corrected measured point determination in high definition coordinate metrology. International Journal of Advanced Manufacturing Technology, 42(5-6), 505-514. https://doi.org/10.1007/s00170-008-1615-1 |
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