Adam Woźniak, J. R. René Mayer
, Marek Balazinski
Article de revue (2009)
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Département:
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Titre de la revue
:
International Journal of Advanced Manufacturing Technology
(
vol.
42
,
no
5-6
)
Maison d'édition:
Springer
URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:18808
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:15
Dernière modification:
14 oct. 2026 11:22
Citer en APA 7:
Woźniak, A., Mayer, J. R. R., & Balazinski, M. (2009). Stylus tip envelop method: Corrected measured point determination in high definition coordinate metrology. International Journal of Advanced Manufacturing Technology, 42(5-6), 505-514. https://doi.org/10.1007/s00170-008-1615-1
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