V. Arnaoudova, L. Eshkevari, R. Oliveto, Yann-Gaël Guéhéneuc et Giuliano Antoniol
Communication écrite (2010)
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| Département: | Département de génie informatique et génie logiciel |
|---|---|
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/18713/ |
| Nom de la conférence: | 26th IEEE International Conference on Software Maintenance (ICSM 2010) |
| Lieu de la conférence: | Timisoara, Romania |
| Date(s) de la conférence: | 2010-09-12 - 2010-09-18 |
| Maison d'édition: | Institute of Electrical and Electronics Engineers |
| DOI: | 10.1109/icsm.2010.5609748 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1109/icsm.2010.5609748 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:13 |
| Dernière modification: | 05 avr. 2024 11:00 |
| Citer en APA 7: | Arnaoudova, V., Eshkevari, L., Oliveto, R., Guéhéneuc, Y.-G., & Antoniol, G. (septembre 2010). Physical and Conceptual Identifier Dispersion: Measures and Relation to Fault Proneness [Communication écrite]. 26th IEEE International Conference on Software Maintenance (ICSM 2010), Timisoara, Romania (5 pages). https://doi.org/10.1109/icsm.2010.5609748 |
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