Physical and Conceptual Identifier Dispersion: Measures and Relation to Fault Proneness

Arnaoudova, Venera; Eshkevari, L.; Oliveto, Rocco; Guéhéneuc, Yann-Gaël; Antoniol, Giuliano; Arnaoudova, Venera; Eshkevari, L.; Oliveto, Rocco; Guéhéneuc, Yann-Gaël; Antoniol, Giuliano

Physical and Conceptual Identifier Dispersion: Measures and Relation to Fault Proneness

Venera Arnaoudova, L. Eshkevari, Rocco Oliveto, Yann-Gaël Guéhéneuc, Giuliano Antoniol

Communication écrite (2010)

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Département:

Département de génie informatique et génie logiciel

ISBN:

9781424486298

Adresse URL de PolyPublie:

https://publications.polymtl.ca/18713/

Nom de la conférence:

26th IEEE International Conference on Software Maintenance (ICSM 2010)

Lieu de la conférence:

Timisoara, Romania

Date(s) de la conférence:

2010-09-12 - 2010-09-18

Maison d'édition:

Institute of Electrical and Electronics Engineers

DOI:

10.1109/icsm.2010.5609748

URL officielle:

https://doi.org/10.1109/icsm.2010.5609748

OAI:

oai:publications.polymtl.ca:18713

ORCID

Date du dépôt:

18 avr. 2023 15:13

Dernière modification:

14 oct. 2026 11:21

Citer en APA 7:

Arnaoudova, V., Eshkevari, L., Oliveto, R., Guéhéneuc, Y.-G., & Antoniol, G. (septembre 2010). Physical and Conceptual Identifier Dispersion: Measures and Relation to Fault Proneness [Communication écrite]. 26th IEEE International Conference on Software Maintenance (ICSM 2010), Timisoara, Romania (5 pages). https://doi.org/10.1109/icsm.2010.5609748

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