<  Retour au portail Polytechnique Montréal

Phase determination of filtered vacuum arc deposited TiO₂ thin films by optical modeling

E. Çetinörgü, N. Geron, S. Goldsmith et R. L. Boxman

Communication écrite (2008)

Un lien externe est disponible pour ce document
Département: Département de génie physique
URL de PolyPublie: https://publications.polymtl.ca/18532/
Nom de la conférence: International Symposium on Transparent Conductive Oxides held in Hersonissos
Lieu de la conférence: Crete, Greece
Date(s) de la conférence: 2008-10-22
Titre de la revue: Thin Solid Films (vol. 518, no 4)
Maison d'édition: Elsevier
DOI: 10.1016/j.tsf.2009.02.157
URL officielle: https://doi.org/10.1016/j.tsf.2009.02.157
Date du dépôt: 18 avr. 2023 15:14
Dernière modification: 05 avr. 2024 11:00
Citer en APA 7: Çetinörgü, E., Geron, N., Goldsmith, S., & Boxman, R. L. (octobre 2008). Phase determination of filtered vacuum arc deposited TiO₂ thin films by optical modeling [Communication écrite]. International Symposium on Transparent Conductive Oxides held in Hersonissos, Crete, Greece. Publié dans Thin Solid Films, 518(4). https://doi.org/10.1016/j.tsf.2009.02.157

Statistiques

Dimensions

Actions réservées au personnel

Afficher document Afficher document