A. W. Tsen, Fabio Cicoira
, G. G. Malliaras et Park Jiwoong
Article de revue (2010)
Document publié alors que les auteurs ou autrices n'étaient pas affiliés à Polytechnique Montréal
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| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/17495/ |
|---|---|
| Titre de la revue: | Applied Physics Letters (vol. 97, no 2) |
| Maison d'édition: | American Institute of Physics |
| DOI: | 10.1063/1.3462914 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1063/1.3462914 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:14 |
| Dernière modification: | 05 avr. 2024 10:59 |
| Citer en APA 7: | Tsen, A. W., Cicoira, F., Malliaras, G. G., & Jiwoong, P. (2010). Photoelectrical imaging and characterization of point contacts in pentacene thin-film transistors. Applied Physics Letters, 97(2), 3 pages. https://doi.org/10.1063/1.3462914 |
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