Adam W. Tsen, Fabio Cicoira
, George G. Malliaras, Jiwoong Park
Article de revue (2010)
Document publié alors que les auteurs ou autrices n'étaient pas affiliés à Polytechnique Montréal
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Titre de la revue
:
Applied Physics Letters
(
vol.
97
,
no
2
)
Maison d'édition:
American Institute of Physics
DOI:
URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:17495
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:14
Dernière modification:
14 oct. 2026 11:20
Citer en APA 7:
Tsen, A. W., Cicoira, F., Malliaras, G. G., & Park, J. (2010). Photoelectrical imaging and characterization of point contacts in pentacene thin-film transistors. Applied Physics Letters, 97(2), 3 pages. https://doi.org/10.1063/1.3462914
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