Adam W. Tsen, Fabio Cicoira
, George G. Malliaras et Jiwoong Park
Article de revue (2010)
Document publié alors que les auteurs ou autrices n'étaient pas affiliés à Polytechnique Montréal
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| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/17495/ |
|---|---|
| Titre de la revue: | Applied Physics Letters (vol. 97, no 2) |
| Maison d'édition: | American Institute of Physics |
| DOI: | 10.1063/1.3462914 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1063/1.3462914 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:14 |
| Dernière modification: | 08 avr. 2025 01:45 |
| Citer en APA 7: | Tsen, A. W., Cicoira, F., Malliaras, G. G., & Park, J. (2010). Photoelectrical imaging and characterization of point contacts in pentacene thin-film transistors. Applied Physics Letters, 97(2), 3 pages. https://doi.org/10.1063/1.3462914 |
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