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Photoelectrical imaging and characterization of point contacts in pentacene thin-film transistors

Adam W. Tsen, Fabio Cicoira, George G. Malliaras et Jiwoong Park

Article de revue (2010)

Document publié alors que les auteurs ou autrices n'étaient pas affiliés à Polytechnique Montréal

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URL de PolyPublie: https://publications.polymtl.ca/17495/
Titre de la revue: Applied Physics Letters (vol. 97, no 2)
Maison d'édition: American Institute of Physics
DOI: 10.1063/1.3462914
URL officielle: https://doi.org/10.1063/1.3462914
Date du dépôt: 18 avr. 2023 15:14
Dernière modification: 25 sept. 2024 15:55
Citer en APA 7: Tsen, A. W., Cicoira, F., Malliaras, G. G., & Park, J. (2010). Photoelectrical imaging and characterization of point contacts in pentacene thin-film transistors. Applied Physics Letters, 97(2), 3 pages. https://doi.org/10.1063/1.3462914

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