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Predicting post-release defects using pre-release field testing results

Foutse Khomh, B. Chan, Ying Zou, A. Sinha et D. Dietz

Communication écrite (2011)

Document publié alors que les auteurs ou autrices n'étaient pas affiliés à Polytechnique Montréal

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URL de PolyPublie: https://publications.polymtl.ca/16671/
Nom de la conférence: IEEE International Conference on Software Maintenance (ICSM 2011)
Lieu de la conférence: Williamsburg, VA, USA
Date(s) de la conférence: 2011-09-25 - 2011-10-01
Maison d'édition: IEEE
DOI: 10.1109/icsm.2011.6080792
URL officielle: https://doi.org/10.1109/icsm.2011.6080792
Date du dépôt: 18 avr. 2023 15:12
Dernière modification: 25 sept. 2024 15:54
Citer en APA 7: Khomh, F., Chan, B., Zou, Y., Sinha, A., & Dietz, D. (septembre 2011). Predicting post-release defects using pre-release field testing results [Communication écrite]. IEEE International Conference on Software Maintenance (ICSM 2011), Williamsburg, VA, USA. https://doi.org/10.1109/icsm.2011.6080792

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