An accurate estimation of the Levenshtein distance using metric trees and Manhattan distance

T. Lavoie et Ettore Merlo

Communication écrite (2012)

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Département:	Département de génie informatique et génie logiciel
URL de PolyPublie:	https://publications.polymtl.ca/15115/
Nom de la conférence:	6th International Workshop on Software Clones (IWSC 2012)
Lieu de la conférence:	Zurich, Switzerland
Date(s) de la conférence:	2012-06-04
Maison d'édition:	Institute of Electrical and Electronics Engineers
DOI:	10.1109/iwsc.2012.6227861
URL officielle:	https://doi.org/10.1109/iwsc.2012.6227861
Date du dépôt:	18 avr. 2023 15:11
Dernière modification:	05 avr. 2024 10:55

Citer en APA 7:	Lavoie, T., & Merlo, E. (juin 2012). An accurate estimation of the Levenshtein distance using metric trees and Manhattan distance [Communication écrite]. 6th International Workshop on Software Clones (IWSC 2012), Zurich, Switzerland. https://doi.org/10.1109/iwsc.2012.6227861
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