Sebastien Saez, Basile Dufay, Christophe Dolabdjian, Arthur Yelon
, David Ménard
Communication écrite (2012)
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Département:
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Nom de la conférence:
2nd International Conference on Materials and Applications for Sensors and Transducers (IC-MAST 2012)
Lieu de la conférence:
Budapest, Hungary
Date(s) de la conférence:
2012-05-24 - 2012-05-28
Titre de la revue
:
Key Engineering Materials
(
vol.
543
)
Maison d'édition:
Trans Tech Publications Ltd.
URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:13171
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:10
Dernière modification:
14 oct. 2026 11:13
Citer en APA 7:
Saez, S., Dufay, B., Dolabdjian, C., Yelon, A., & Ménard, D. (mai 2012). Effect of parasitic capacitance on GMI magnetic sensor performance [Communication écrite]. 2nd International Conference on Materials and Applications for Sensors and Transducers (IC-MAST 2012), Budapest, Hungary. Publié dans Key Engineering Materials, 543. https://doi.org/10.4028/www.scientific.net/kem.543.261
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