Sebastien Saez, Basile Dufay, Christophe Dolabdjian, Arthur Yelon
et David Ménard
Communication écrite (2012)
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| Département: | Département de génie physique |
|---|---|
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/13171/ |
| Nom de la conférence: | 2nd International Conference on Materials and Applications for Sensors and Transducers (IC-MAST 2012) |
| Lieu de la conférence: | Budapest, Hungary |
| Date(s) de la conférence: | 2012-05-24 - 2012-05-28 |
| Titre de la revue: | Key Engineering Materials (vol. 543) |
| Maison d'édition: | Trans Tech Publications Ltd. |
| DOI: | 10.4028/www.scientific.net/kem.543.261 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.4028/www.scientific.net/kem.543... |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:10 |
| Dernière modification: | 05 avr. 2024 10:52 |
| Citer en APA 7: | Saez, S., Dufay, B., Dolabdjian, C., Yelon, A., & Ménard, D. (mai 2012). Effect of parasitic capacitance on GMI magnetic sensor performance [Communication écrite]. 2nd International Conference on Materials and Applications for Sensors and Transducers (IC-MAST 2012), Budapest, Hungary. Publié dans Key Engineering Materials, 543. https://doi.org/10.4028/www.scientific.net/kem.543.261 |
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