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Automatic Data Generation for MC/DC Test Criterion Using Metaheuristic Algorithms

Zeina Awedikian

Mémoire de maîtrise (2009)

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Département: Département de génie informatique et génie logiciel
Programme: Génie informatique
Directeurs ou directrices: Giuliano Antoniol
URL de PolyPublie: https://publications.polymtl.ca/127/
Université/École: École Polytechnique de Montréal
Date du dépôt: 25 juin 2009 13:51
Dernière modification: 01 avr. 2026 08:55
Citer en APA 7: Awedikian, Z. (2009). Automatic Data Generation for MC/DC Test Criterion Using Metaheuristic Algorithms [Mémoire de maîtrise, École Polytechnique de Montréal]. PolyPublie. https://publications.polymtl.ca/127/

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