Mark D. Syer, Meiyappan Nagappan, Bram Adams et Ahmed E. Hassan
Article de revue (2015)
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| Département: | Département de génie informatique et génie logiciel |
|---|---|
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/10905/ |
| Titre de la revue: | IEEE Transactions on Software Engineering (vol. 41, no 2) |
| Maison d'édition: | IEEE |
| DOI: | 10.1109/tse.2014.2361131 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1109/tse.2014.2361131 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:07 |
| Dernière modification: | 05 avr. 2024 10:49 |
| Citer en APA 7: | Syer, M. D., Nagappan, M., Adams, B., & Hassan, A. E. (2015). Replicating and re-evaluating the theory of relative defect-proneness. IEEE Transactions on Software Engineering, 41(2), 176-97. https://doi.org/10.1109/tse.2014.2361131 |
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