Mark D. Syer, Meiyappan Nagappan, Bram Adams, Ahmed E. Hassan
Article de revue (2015)
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Département:
Adresse URL de PolyPublie:
Titre de la revue
:
IEEE Transactions on Software Engineering
(
vol.
41
,
no
2
)
Maison d'édition:
IEEE
URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:10905
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:07
Dernière modification:
14 oct. 2026 11:10
Citer en APA 7:
Syer, M. D., Nagappan, M., Adams, B., & Hassan, A. E. (2015). Replicating and re-evaluating the theory of relative defect-proneness. IEEE Transactions on Software Engineering, 41(2), 176-97. https://doi.org/10.1109/tse.2014.2361131
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