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Replicating and re-evaluating the theory of relative defect-proneness

Mark D. Syer, Meiyappan Nagappan, Bram Adams et Ahmed E. Hassan

Article de revue (2015)

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Département: Département de génie informatique et génie logiciel
URL de PolyPublie: https://publications.polymtl.ca/10905/
Titre de la revue: IEEE Transactions on Software Engineering (vol. 41, no 2)
Maison d'édition: IEEE
DOI: 10.1109/tse.2014.2361131
URL officielle: https://doi.org/10.1109/tse.2014.2361131
Date du dépôt: 18 avr. 2023 15:07
Dernière modification: 25 sept. 2024 15:47
Citer en APA 7: Syer, M. D., Nagappan, M., Adams, B., & Hassan, A. E. (2015). Replicating and re-evaluating the theory of relative defect-proneness. IEEE Transactions on Software Engineering, 41(2), 176-97. https://doi.org/10.1109/tse.2014.2361131

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