Documents publiés en "2017"

Département de génie informatique et génie logiciel

Chao, C., Panerati, J., Hafnaoui, I., & Beltrame, G. (juin 2017). Static probabilistic timing analysis with a permanent fault detection mechanism [Communication écrite]. 12th IEEE International Symposium on Industrial Embedded Systems (SIES 2017), Toulouse, France (10 pages). Lien externe