Documents publiés en "2015"

Département de génie informatique et génie logiciel

Hayes, J. H., Antoniol, G., Adams, B., & Guéhéneuc, Y.-G. (août 2015). Inherent characteristics of traceability artifacts: Less is more [Communication écrite]. 23rd IEEE International Requirements Engineering Conference (RE 2015), Ottawa, ON, Canada. Lien externe