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Département de génie électrique

Zhou, B. (2006). Evaluation of delay mismatch due to process variations in CMOS integrated circuits [Mémoire de maîtrise, École Polytechnique de Montréal]. Disponible

Zhou, B., Amir Mohammad, A., & Khouas, A. (2006). Characterizing delay mismatch in ring oscillator based test structure. WSEAS Transactions on Circuits and Systems, 5(7), 903-910. Non disponible

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