Documents publiés en "2003"

Département de génie électrique

Nicolescu, B., Perronnard, P., Velazco, R., & Savaria, Y. (novembre 2003). Efficiency of transient bit-flips detection by software means a complete study [Communication écrite]. 18th IEEE International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems (DFT 2003), Cambridge, MA, USA. Lien externe