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Département de génie électrique
Jamoussi, M., & Kamińska, B. (mai 1993). A functional-level testability evaluation using a new M-testability approach [Communication écrite]. IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS 1993), Chicago, IL, USA. Lien externe
Département de génie informatique et génie logiciel
Jamoussi, M., & Kamińska, B. (mai 1993). A functional-level testability evaluation using a new M-testability approach [Communication écrite]. IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS 1993), Chicago, IL, USA. Lien externe