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Département de génie électrique
Vado, P., Savaria, Y., Zoccarato, Y., & Robach, C. (mai 2000). A methodology for validating digital circuits with mutation testing [Communication écrite]. IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS 2000), Geneva, Switzerland. Lien externe
Département de génie informatique et génie logiciel
Vado, P., Savaria, Y., Zoccarato, Y., & Robach, C. (mai 2000). A methodology for validating digital circuits with mutation testing [Communication écrite]. IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS 2000), Geneva, Switzerland. Lien externe