Documents publiés en "1998"

S

Sylla, I. T., Slamani, M., Kamińska, B., Hossein, F. M., & Vincent, P. (avril 1998). Impedance mismatch and lumped capacitance effects in high frequency testing [Communication écrite]. 16th IEEE VLSI Test Symposium, Monterey, CA, USA. Lien externe