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Département de génie physique

da Silva Sobrinho, A. S., Chasle, J., Dennler, G., & Wertheimer, M. R. (1998). Characterization of defects in PECVD-SiO₂ coatings on PET by confocal microscopy. Plasmas and Polymers, 3(4), 231-247. Lien externe

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