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Département de génie électrique

Kafrounni, M., Thibeault, C., & Savaria, Y. (octobre 1997). Cost model for VLSI/MCM systems [Communication écrite]. IEEE Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems, Paris, France. Lien externe

Département de génie informatique et génie logiciel

Kafrounni, M., Thibeault, C., & Savaria, Y. (octobre 1997). Cost model for VLSI/MCM systems [Communication écrite]. IEEE Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems, Paris, France. Lien externe

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