Documents publiés en "1995"
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Département de génie électrique
Khaled, S., Kamińska, B., Courtois, B., & Lubaszewski, M. (avril 1995). Frequency-based BIST for analog circuit testing [Communication écrite]. 13th IEEE VLSI Test Symposium, Princeton, NJ, USA. Lien externe
Département de génie informatique et génie logiciel
Khaled, S., Kamińska, B., Courtois, B., & Lubaszewski, M. (avril 1995). Frequency-based BIST for analog circuit testing [Communication écrite]. 13th IEEE VLSI Test Symposium, Princeton, NJ, USA. Lien externe