Documents publiés en "1995"
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Département de génie électrique
Thibeault, C., Savaria, Y., & Houle, J.-L. (1995). Equivalence proofs of some yield modeling methods for defect-tolerant integrated-circuits. IEEE Transactions on Computers, 44(5), 724-728. Lien externe
Département de génie informatique et génie logiciel
Thibeault, C., Savaria, Y., & Houle, J.-L. (1995). Equivalence proofs of some yield modeling methods for defect-tolerant integrated-circuits. IEEE Transactions on Computers, 44(5), 724-728. Lien externe