Documents publiés en "1994"
Monter d'un niveauNombre de documents: 2
Département de génie électrique
Bégin, M., Ghannouchi, F. M., Selmi, L., & Riccò, B. (mai 1994). Instantaneous S parameters measurements of MESFETs under burst bias conditions [Communication écrite]. IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference (IMTC 1994), Hamamatsu, Japan. Lien externe
Département de génie informatique et génie logiciel
Bégin, M., Ghannouchi, F. M., Selmi, L., & Riccò, B. (mai 1994). Instantaneous S parameters measurements of MESFETs under burst bias conditions [Communication écrite]. IEEE Instrumentation and Measurement Technology Conference (IMTC 1994), Hamamatsu, Japan. Lien externe