Documents publiés en "1994"
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Département de génie électrique
Ayari, B., & Kamińska, B. (1994). New dynamic test vector compaction for automatic test pattern generation. IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems, 13(3), 353-358. Lien externe
Département de génie informatique et génie logiciel
Ayari, B., & Kamińska, B. (1994). New dynamic test vector compaction for automatic test pattern generation. IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems, 13(3), 353-358. Lien externe