Documents publiés en "1994"
Monter d'un niveauNombre de documents: 2
Département de génie électrique
Slamani, M., Kamińska, B., & Quesnel, G. (octobre 1994). Integrated approach for analog circuit testing with a minimum number of detected parameters [Communication écrite]. 1994 IEEE International Test Conference, Washington, DC, USA. Lien externe
Département de génie informatique et génie logiciel
Slamani, M., Kamińska, B., & Quesnel, G. (octobre 1994). Integrated approach for analog circuit testing with a minimum number of detected parameters [Communication écrite]. 1994 IEEE International Test Conference, Washington, DC, USA. Lien externe