Documents publiés en "1993"
Monter d'un niveauNombre de documents: 2
Département de génie électrique
Ben Hamida, N., & Kamińska, B. (1993). Multiple fault analog circuit testing by sensitivity analysis. Analog Integrated Circuits and Signal Processing, 4(3), 231-243. Lien externe
Département de génie informatique et génie logiciel
Ben Hamida, N., & Kamińska, B. (1993). Multiple fault analog circuit testing by sensitivity analysis. Analog Integrated Circuits and Signal Processing, 4(3), 231-243. Lien externe