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Département de génie électrique
Slamani, M., & Kamińska, B. (novembre 1993). T-BIST: A built-in self-test for analog circuits based on parameter translation [Communication écrite]. 2nd IEEE Asian Test Symposium (ATS 1993), Beijing, China. Lien externe
Département de génie informatique et génie logiciel
Slamani, M., & Kamińska, B. (novembre 1993). T-BIST: A built-in self-test for analog circuits based on parameter translation [Communication écrite]. 2nd IEEE Asian Test Symposium (ATS 1993), Beijing, China. Lien externe