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Département de génie électrique
Belabbes, N., Guterman, A., Savaria, Y., & Dagenais, M. (mai 1992). Ratioed voter circuit for testing and fault-tolerance in VLSI processing arrays [Communication écrite]. IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS 1992), San Diego, CA, United states. Lien externe
Département de génie informatique et génie logiciel
Belabbes, N., Guterman, A., Savaria, Y., & Dagenais, M. (mai 1992). Ratioed voter circuit for testing and fault-tolerance in VLSI processing arrays [Communication écrite]. IEEE International Symposium on Circuits and Systems (ISCAS 1992), San Diego, CA, United states. Lien externe