Documents publiés en "1990"

Rapport technique

Thibeault, C., Savaria, Y., & Houle, J.-L. (1990). Equivalence proofs of some yield modeling methods for defect-tolerant integrated circuits. (Rapport technique n° EPM-RT-90-11). Accès restreintDisponible

Mémoire de maîtrise

Wang, S. (1990). A CAD/CAM wideband microwave six-port junction [Mémoire de maîtrise, École Polytechnique de Montréal]. Disponible