Documents dont l'auteur est "Hontschel, Jan"

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Article de revue

Hähnel, A., Reiche, M., Moutanabbir, O., Blumtritt, H., Geisler, H., Hontschel, J., & Engelmann, H.-J. (2012). Improving accuracy and precision of strain analysis by energy-filtered nanobeam electron diffraction. Microscopy and Microanalysis, 18(1), 229-40. Lien externe

Liste produite: Wed Oct 14 22:21:08 2026 EDT.