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Awedikian, Z. (2009). Automatic Data Generation for MC/DC Test Criterion Using Metaheuristic Algorithms [Mémoire de maîtrise, École Polytechnique de Montréal]. Disponible
Awedikian, Z., Ayari, K., & Antoniol, G. (juillet 2009). MC/DC automatic test input data generation [Communication écrite]. 11th Annual Genetic and Evolutionary Computation Conference (GECCO 2009), Montréal, Québec. Lien externe