Documents dont l'auteur est "Guterman, Alexandre J."

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B

Belabbes, N.-E., Guterman, A. J., Savaria, Y., & Dagenais, M. (1996). Ratioed voter circuit for testing and fault-tolerance in VLSI processing arrays. IEEE Transactions on Circuits and Systems I: Fundamental Theory and Applications, 43(2), 143-152. Lien externe

G

Guterman, A. J., Savaria, Y., & Dagenais, M. (avril 1993). On the diagnosability of DNMR testing [Communication écrite]. 3rd European Test Conference, Rotterdam, Netherlands. Lien externe

Liste produite: Thu Oct 15 07:34:19 2026 EDT.