Documents dont l'auteur est "Khaled, Saab"

Pour citer ou exporter
Grouper par: Rôle | Auteurs ou autrices | Date de publication | Sous-type de document | Aucun groupement
Nombre de documents: 1

K

Khaled, S., Kamińska, B., Courtois, B., & Lubaszewski, M. (avril 1995). Frequency-based BIST for analog circuit testing [Communication écrite]. 13th IEEE VLSI Test Symposium, Princeton, NJ, USA. Lien externe

Liste produite: Thu Oct 15 20:50:58 2026 EDT.