Documents dont l'auteur est "Friis, Jesper"

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Article de revue

H. Eliassen, S. N., Friis, J., Ringdalen, I. G., Mousseau, N., Trochet, M., & Li, Y. (2019). Atomistic approach to simulate kink migration and kink-pair formation in silicon: The kinetic activation-relaxation technique. Physical review. B, 100(15), 155305 (11 pages). Lien externe

Liste produite: Wed Oct 14 23:35:58 2026 EDT.