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Allard, M. (1998). Evaluation and effects of temperature in optoelectronic waveguide devices [Mémoire de maîtrise, École Polytechnique de Montréal]. Disponible
Portillo, M. B. (2008). Développement d'une méthodologie statistique pour la détection de l'usure d'un outil avec des cartes de contrôle [Mémoire de maîtrise, École Polytechnique de Montréal]. Disponible