Characterization of Multilayered Structures Using a FEGSEM and X-Ray Microanalysis

Raynald Gauvin, Mario Caron, Vincent Fortin, John F. Currie

Article de revue (1997)

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Mots clés

Département:
Département de génie physique
Adresse URL de PolyPublie:
https://publications.polymtl.ca/84079/
Titre de la revue :
Microscopy and Microanalysis ( vol. 3 , no S2 )
Maison d'édition:
Oxford University Press
DOI:
10.1017/s143192760000920x
URL officielle:
https://doi.org/10.1017/s143192760000920x
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:84079
ORCID
Raynald Gauvin (iD)0000-0003-2513-3128 (Non authentifié)
Vincent Fortin (iD)0000-0002-2145-4592 (Non authentifié)
John F. Currie (iD)0000-0001-8014-9128 (Non authentifié)
Date du dépôt:
16 oct. 2026 17:03
Dernière modification:
16 oct. 2026 17:03
Citer en APA 7:
Gauvin, R., Caron, M., Fortin, V., & Currie, J. F. (1997). Characterization of Multilayered Structures Using a FEGSEM and X-Ray Microanalysis. Microscopy and Microanalysis, 3(S2), 463-464. https://doi.org/10.1017/s143192760000920x

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