Luo Luo, Mahmoud R. M. Atalla, Simone Assali, Sebastian Koelling, Gerard Daligou et Oussama Moutanabbir
Article de revue (2024)
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| Département: | Département de génie physique |
|---|---|
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/58124/ |
| Titre de la revue: | Nano Letters (vol. 24, no 16) |
| Maison d'édition: | ACS Publications |
| DOI: | 10.1021/acs.nanolett.4c00759 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1021/acs.nanolett.4c00759 |
| Date du dépôt: | 30 avr. 2024 12:41 |
| Dernière modification: | 25 sept. 2024 16:50 |
| Citer en APA 7: | Luo, L., Atalla, M. R. M., Assali, S., Koelling, S., Daligou, G., & Moutanabbir, O. (2024). Mid-infrared Imaging Using Strain-Relaxed Ge1-x Sn x Alloys Grown on 20 nm Ge Nanowires. Nano Letters, 24(16), 4979 -4986-4979 -4986. https://doi.org/10.1021/acs.nanolett.4c00759 |
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