Denis Morris, Alberto Teyssedou, Jean Lapierre et Altan Tapucu
Article de revue (1987)
Un lien externe est disponible pour ce documentDépartement: | Département de génie physique |
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URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/55590/ |
Titre de la revue: | Applied optics (vol. 26, no 21) |
Maison d'édition: | Optica Publishing Group |
DOI: | 10.1364/ao.26.004660 |
URL officielle: | https://doi.org/10.1364/ao.26.004660 |
Date du dépôt: | 19 sept. 2023 15:25 |
Dernière modification: | 25 sept. 2024 16:47 |
Citer en APA 7: | Morris, D., Teyssedou, A., Lapierre, J., & Tapucu, A. (1987). Optical fiber probe to measure local void fraction profiles. Applied optics, 26(21), 4660-4664. https://doi.org/10.1364/ao.26.004660 |
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