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Plant-wide root cause identification using plant key performance indicators (KPIs) with application to a paper machine

Moncef Chioua, Margret Bauer, Su-Liang Chen, Jan C. Schlake, Guido Sand, Werner Schmidt et Nina F. Thornhill

Article de revue (2016)

Document publié alors que les auteurs ou autrices n'étaient pas affiliés à Polytechnique Montréal

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URL de PolyPublie: https://publications.polymtl.ca/46504/
Titre de la revue: Control Engineering Practice (vol. 49)
Maison d'édition: Elsevier
DOI: 10.1016/j.conengprac.2015.10.011
URL officielle: https://doi.org/10.1016/j.conengprac.2015.10.011
Date du dépôt: 18 avr. 2023 15:05
Dernière modification: 25 sept. 2024 16:34
Citer en APA 7: Chioua, M., Bauer, M., Chen, S.-L., Schlake, J. C., Sand, G., Schmidt, W., & Thornhill, N. F. (2016). Plant-wide root cause identification using plant key performance indicators (KPIs) with application to a paper machine. Control Engineering Practice, 49, 149-158. https://doi.org/10.1016/j.conengprac.2015.10.011

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