Moncef Chioua, Margret Bauer, Su-Liang Chen, Jan C. Schlake, Guido Sand, Werner Schmidt et Nina F. Thornhill
Article de revue (2016)
Document publié alors que les auteurs ou autrices n'étaient pas affiliés à Polytechnique Montréal
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Titre de la revue: | Control Engineering Practice (vol. 49) |
Maison d'édition: | Elsevier |
DOI: | 10.1016/j.conengprac.2015.10.011 |
URL officielle: | https://doi.org/10.1016/j.conengprac.2015.10.011 |
Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:05 |
Dernière modification: | 25 sept. 2024 16:34 |
Citer en APA 7: | Chioua, M., Bauer, M., Chen, S.-L., Schlake, J. C., Sand, G., Schmidt, W., & Thornhill, N. F. (2016). Plant-wide root cause identification using plant key performance indicators (KPIs) with application to a paper machine. Control Engineering Practice, 49, 149-158. https://doi.org/10.1016/j.conengprac.2015.10.011 |
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