Adequate vs. inadequate test suite reduction approaches

Carmen Coviello, Simone Romano, Giuseppe Scanniello, Alessandro Marchetto, Anna Corazza, Giuliano Antoniol

Article de revue (2020)

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Mots clés

Département:
Département de génie informatique et génie logiciel
Matériel d'accompagnement:
Adresse URL de PolyPublie:
https://publications.polymtl.ca/44501/
Titre de la revue :
Information and Software Technology ( vol. 119 )
Maison d'édition:
Elsevier B.V.
DOI:
10.1016/j.infsof.2019.106224
URL officielle:
https://doi.org/10.1016/j.infsof.2019.106224
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:44501
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:00
Dernière modification:
14 oct. 2026 13:57
Citer en APA 7:
Coviello, C., Romano, S., Scanniello, G., Marchetto, A., Corazza, A., & Antoniol, G. (2020). Adequate vs. inadequate test suite reduction approaches. Information and Software Technology, 119, 106224 (19 pages). https://doi.org/10.1016/j.infsof.2019.106224

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