Dimitri Vasilevskiy, M. K. Keshavarz, J.-M. Simard, Rémo A. Masut
, Sylvain Turenne, G. J. Snyder
Article de revue (2018)
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Adresse URL de PolyPublie:
Titre de la revue
:
Journal of Electronic Materials
(
vol.
47
,
no
6
)
Maison d'édition:
Springer
URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:39398
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:03
Dernière modification:
14 oct. 2026 13:31
Citer en APA 7:
Vasilevskiy, D., Keshavarz, M. K., Simard, J.-M., Masut, R. A., Turenne, S., & Snyder, G. J. (2018). Assessing the thermal conductivity of Cu2xSe alloys undergoing a phase transition via the simultaneous measurement of thermoelectric parameters by a Harman-based setup. Journal of Electronic Materials, 47(6), 3314-3319. https://doi.org/10.1007/s11664-017-6057-9
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