G. Bacquet, J. Dib, C. Y. Wu, Michael R. Wertheimer, Arthur Yelon
, John R. Densley, Steven A. Boggs
Article de revue (1978)
Accéder à ce document
Lien externe
Ce document n'est pas archivé dans PolyPublie, mais peut être consulté chez l'éditeur officiel
Département:
Adresse URL de PolyPublie:
Titre de la revue
:
IEEE Transactions on Electrical Insulation
(
vol.
EI-13
,
no
3
)
Maison d'édition:
IEEE
URL officielle:
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:38140
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:26
Dernière modification:
14 oct. 2026 13:29
Citer en APA 7:
Bacquet, G., Dib, J., Wu, C. Y., Wertheimer, M. R., Yelon, A., Densley, J. R., & Boggs, S. A. (1978). ESR Study of Free Radicals in Electrical Trees in Polyethylene. IEEE Transactions on Electrical Insulation, EI-13(3), 157-163. https://doi.org/10.1109/tei.1978.298124
Statistiques
Dimensions
