Galvanostatic Rejuvenation of Electrochromic WO3 Thin Films : Ion Trapping and Detrapping Observed by Optical Measurements and by Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry

Baloukas, Bill; Arvizu, Miguel A.; Wen, Rui-Tao; Niklasson, Gunnar A.; Granqvist, Claes G.; Vernhes, Richard; Sapieha, Jolanta-Ewa; Martinu, Ludvik; Baloukas, Bill; Arvizu, Miguel A.; Wen, Rui-Tao; Niklasson, Gunnar A.; Granqvist, Claes G.; Vernhes, Richard; Sapieha, Jolanta-Ewa; Martinu, Ludvik

Galvanostatic Rejuvenation of Electrochromic WO3 Thin Films : Ion Trapping and Detrapping Observed by Optical Measurements and by Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry

Bill Baloukas, Miguel A. Arvizu, Rui-Tao Wen, Gunnar A. Niklasson, Claes G. Granqvist, Richard Vernhes, Jolanta-Ewa Sapieha , Ludvik Martinu

Article de revue (2017)

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Département:

Département de génie physique

Adresse URL de PolyPublie:

https://publications.polymtl.ca/37440/

Titre de la revue :

ACS Applied Materials & Interfaces ( vol. 9 , no 20 )

Maison d'édition:

American Chemical Society (ACS)

DOI:

10.1021/acsami.7b01260

URL officielle:

https://doi.org/10.1021/acsami.7b01260

OAI:

oai:publications.polymtl.ca:37440

ORCID

Date du dépôt:

18 avr. 2023 15:04

Dernière modification:

14 oct. 2026 13:28

Citer en APA 7:

Baloukas, B., Arvizu, M. A., Wen, R.-T., Niklasson, G. A., Granqvist, C. G., Vernhes, R., Sapieha, J.-E., & Martinu, L. (2017). Galvanostatic Rejuvenation of Electrochromic WO3 Thin Films : Ion Trapping and Detrapping Observed by Optical Measurements and by Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry. ACS Applied Materials & Interfaces, 9(20), 16995-17001. https://doi.org/10.1021/acsami.7b01260

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