Dany Chagnon, Eckhard Pippel, Stephan Senz et Oussama Moutanabbir
Article de revue (2016)
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| Département: | Département de génie physique |
|---|---|
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/34830/ |
| Titre de la revue: | Journal of Physical Chemistry C (vol. 120, no 5) |
| Maison d'édition: | American Chemical Society (ACS) |
| DOI: | 10.1021/acs.jpcc.5b07361 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1021/acs.jpcc.5b07361 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:05 |
| Dernière modification: | 05 avr. 2024 11:26 |
| Citer en APA 7: | Chagnon, D., Pippel, E., Senz, S., & Moutanabbir, O. (2016). Metal Seed Loss Throughout the Nanowire Growth: Bulk Trapping and Surface Mass Transport. Journal of Physical Chemistry C, 120(5), 2932-2940. https://doi.org/10.1021/acs.jpcc.5b07361 |
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