D. Nix, Yuvin Adnarain Chinniah
, F. Dosio, M. Fessler, F. Schrever
Communication écrite (2015)
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Département:
ISBN:
9781479966158
Adresse URL de PolyPublie:
Nom de la conférence:
IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility (EMC 2015)
Lieu de la conférence:
Dresden, Germany
Date(s) de la conférence:
2015-08-16 - 2015-08-22
Maison d'édition:
IEEE
OAI:
oai:publications.polymtl.ca:34762
ORCID
Date du dépôt:
18 avr. 2023 15:07
Dernière modification:
14 oct. 2026 13:23
Citer en APA 7:
Nix, D., Chinniah, Y. A., Dosio, F., Fessler, M., & Schrever, F. (août 2015). Linking risk and reliability-Mapping the output of risk assessment tools to functional safety requirements for safety related control systems [Communication écrite]. IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility (EMC 2015), Dresden, Germany.
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