Yves Quiquempois, A. Villeneuve, D. Dam, K. Turcotte, J. Maier, G. Stegeman et Suzanne Lacroix
Article de revue (2000)
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| Renseignements supplémentaires: | Nom historique du département: Département de génie physique et de génie des matériaux |
|---|---|
| Département: | Département de génie physique |
| URL de PolyPublie: | https://publications.polymtl.ca/27895/ |
| Titre de la revue: | Electronics Letters (vol. 36, no 8) |
| Maison d'édition: | Institution of Electrical Engineers |
| DOI: | 10.1049/el:20000543 |
| URL officielle: | https://doi.org/10.1049/el%3a20000543 |
| Date du dépôt: | 18 avr. 2023 15:22 |
| Dernière modification: | 23 avr. 2025 11:56 |
| Citer en APA 7: | Quiquempois, Y., Villeneuve, A., Dam, D., Turcotte, K., Maier, J., Stegeman, G., & Lacroix, S. (2000). Second-order nonlinear susceptibility in As₂S₃ chalcogenide thin glass films. Electronics Letters, 36(8), 733-734. https://doi.org/10.1049/el%3a20000543 |
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